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GB/T 28172-2011 嵌入式软件质量保证要求

作者:标准资料网 时间:2024-04-29 19:31:08  浏览:9826   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:嵌入式软件质量保证要求
英文名称:Embedded software quality assurance requirement
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 信息处理技术 >> 软件工程
ICS分类: 信息技术、办公机械设备 >> 软件开发和系统文件
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-12-30
实施日期:2012-06-01
首发日期:2011-12-30
作废日期:
主管部门:全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28)
提出单位:全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28)
归口单位:全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28)
起草单位:中国电子技术标准化研究所、珠海南方软件产品检测中心、炬力集成电路设计有限公司、珠海许继电气有限公司等
起草人:侯建华、潘海洋、黄兆森、王兴念、于春刚、汤玲、阳如坤、应臻恺、张展新、齐建华、张旸旸
出版社:中国标准出版社
出版日期:2012-06-01
页数:16页
适用范围

本标准规定了嵌入式软件项目开发的质量保证过程及通用要求。
本标准适用于嵌入式软件开发周期全过程,可用于嵌入式软件的项目管理、开发、测试和质量保证等。

前言

没有内容

目录

前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 一般要求 2 4.1 嵌入式软件质量保证综述 2 4.2 嵌入式软件质量保证的要素 2 4.3 嵌入式软件开发文档 3 4.4 嵌入式软件开发项目的问题报告 3 5 嵌入式软件开发的质量保证要求 3 5.1 嵌入式软件开发项目生存周期的阶段划分 3 5.2 质量保证过程涉及的角色及职责 3 5.3 嵌入式软件开发的主要质量保证活动 5 5.4 嵌入式软件开发中各阶段的质量保证要求 7 5.5 其他要求 10

引用标准

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T8566 信息技术 软件生存周期过程
GB/T8567 计算机软件文档编制规范
GB/T11457 信息技术 软件工程术语

所属分类: 电子元器件与信息技术 信息处理技术 软件工程 信息技术 办公机械设备 软件开发和系统文件
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基本信息
标准名称:感官分析 方法学 使用标度评价食品
英文名称:Sensory analysis—Methodology—Evaluation of food products by methods using scales
中标分类: 农业、林业 >> 农业、林业综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 食品技术 >> 感观分析
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1996-04-01
实施日期:1996-09-01
首发日期:1996-04-12
作废日期:2005-10-14
主管部门:国家质量监督检验检疫总局
归口单位:cnis 中国标准化研究院
起草单位:编码所
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:13, 字数:20千字
适用范围

本标准规定了使用几种类型的标度对样品进行感官评价的各种检验方法。本标准适用于对样品的感官特性或某个性质进行评估。特别适用于确定原材料的变化及生产、加工或贮存方法的影响。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 农业 林业 农业 林业综合 基础标准与通用方法 食品技术 感观分析
【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Part5-1:optoelectronicdevices-General.
【原文标准名称】:半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电器件.总则
【标准号】:NFC96-005-1-2001
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2001-10-01
【实施或试行日期】:2001-10-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:集成电路;术语;显示装置;定义;半导体器件;分立器件;光电子器件;电子设备及元件;符号
【英文主题词】:Acceptancespecification;Definition;Definitions;Diodes;Discretedevices;Displaydevices;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Ratings;Reliability;Semiconductordevices;Symbols;Terminology
【摘要】:
【中国标准分类号】:L53
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:33P.;A4
【正文语种】:其他